技術(shù)中心2025-03-14
蔡司三坐標(biāo)掃描探頭和探頭座：VAST XXT、RDS、ViScan、LineScan、EagleEye navigator、RST-P、VAST XT gold、ROTOS、FalconEye、XDT、CSC、ROTOS等。
用于采集自由曲面的光學(xué)式探頭
ZEISS DotScan是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面，因?yàn)閷?duì)于這類(lèi)表面，探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。使用ZEISS DotScan時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
ZEISS DotScan是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面，因?yàn)閷?duì)于這類(lèi)表面，探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。使用ZEISS DotScan時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
ZEISS DotScan是測(cè)量自由曲面和細(xì)微結(jié)構(gòu)的不二選擇。ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測(cè)量敏感、柔軟、具反射性或低對(duì)比度的表面，因?yàn)閷?duì)于這類(lèi)表面，探針或相機(jī)傳感器已超過(guò)其能力所及。
使用ZEISS DotScan時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
用途多樣靈活
ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測(cè)量范圍: 10、 3和1 mm。蔡司測(cè)頭可在一次CNC運(yùn)行期間全自動(dòng)更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學(xué)探頭。
關(guān)節(jié)軸每次可移動(dòng)2.5度，可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測(cè)量部件。且由于ZEISS DotScan 1 mm的測(cè)量角度是+/- 30度，因此更大曲率的部件也能測(cè)量。再加上探針的操作模式，使得各種材料都能毫無(wú)問(wèn)題地從各種角度進(jìn)行測(cè)量。配合使用轉(zhuǎn)臺(tái)，甚至連4軸的測(cè)量工作也難不倒ZEISS DotScan。
邁向主動(dòng)式掃描技術(shù)
在所有需要大型測(cè)針配置和高精度表現(xiàn)的測(cè)量應(yīng)用中，VAST主動(dòng)式探頭系列扮演了至關(guān)重要的角色。VAST XT gold奠定了主動(dòng)式掃描技術(shù)的基礎(chǔ)。
使用ZEISS DotScan時(shí)，具高反射性的表面如膝關(guān)節(jié)植入物的金屬部件無(wú)須注入造影劑，即可進(jìn)行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
用途多樣靈活
ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測(cè)量范圍: 10、 3和1 mm。蔡司測(cè)頭可在一次CNC運(yùn)行期間全自動(dòng)更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學(xué)探頭。
關(guān)節(jié)軸每次可移動(dòng)2.5度，可將ZEISS DotScan調(diào)整到垂直于待測(cè)量部件。且由于ZEISS DotScan 1 mm的測(cè)量角度是+/- 30度，因此更大曲率的部件也能測(cè)量。再加上探針的操作模式，使得各種材料都能毫無(wú)問(wèn)題地從各種角度進(jìn)行測(cè)量。配合使用轉(zhuǎn)臺(tái)，甚至連4軸的測(cè)量工作也難不倒ZEISS DotScan。
邁向主動(dòng)式掃描技術(shù)
在所有需要大型測(cè)針配置和高精度表現(xiàn)的測(cè)量應(yīng)用中，VAST主動(dòng)式探頭系列扮演了至關(guān)重要的角色。VAST XT gold奠定了主動(dòng)式掃描技術(shù)的基礎(chǔ)。
ZEISS VAST XT gold特點(diǎn)
額外的測(cè)量系統(tǒng)
VAST XT gold額外配備了一套測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量力可根據(jù)測(cè)量任務(wù)進(jìn)行配置，其也可用于一系列的修正程序。
除了主動(dòng)式掃描，此探頭也支持單點(diǎn)測(cè)量:例如，VAST XT Gold讓您能靈活使用復(fù)雜的測(cè)針配置并提供了自動(dòng)定心功能。
一個(gè)探頭，多項(xiàng)應(yīng)用
憑借其高速掃描的能力，VAST XT gold可勝任任何任務(wù):形狀和位置的測(cè)量、曲線和自由曲面的測(cè)量，以及逆向工程。應(yīng)用范圍涵蓋塑料加工零件、泡沫塑料、制動(dòng)零件、曲柄軸、發(fā)動(dòng)機(jī)和渦輪葉片。
三次元測(cè)量?jī)x 接觸式掃描探頭ZEISS RST-P蔡司三次元探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 三坐標(biāo)探頭座ZEISS RDS蔡司三坐標(biāo)關(guān)節(jié)式探頭座
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭ZEISS VAST XXT 蔡司三坐標(biāo)探頭
額外的測(cè)量系統(tǒng)
VAST XT gold額外配備了一套測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量力可根據(jù)測(cè)量任務(wù)進(jìn)行配置，其也可用于一系列的修正程序。
除了主動(dòng)式掃描，此探頭也支持單點(diǎn)測(cè)量:例如，VAST XT Gold讓您能靈活使用復(fù)雜的測(cè)針配置并提供了自動(dòng)定心功能。
一個(gè)探頭，多項(xiàng)應(yīng)用
憑借其高速掃描的能力，VAST XT gold可勝任任何任務(wù):形狀和位置的測(cè)量、曲線和自由曲面的測(cè)量，以及逆向工程。應(yīng)用范圍涵蓋塑料加工零件、泡沫塑料、制動(dòng)零件、曲柄軸、發(fā)動(dòng)機(jī)和渦輪葉片。
三次元測(cè)量?jī)x 接觸式掃描探頭ZEISS RST-P蔡司三次元探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 三坐標(biāo)探頭座ZEISS RDS蔡司三坐標(biāo)關(guān)節(jié)式探頭座
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭ZEISS VAST XXT 蔡司三坐標(biāo)探頭
三次元測(cè)量?jī)x 光學(xué)式掃描探頭ZEISS ViScan蔡司三次元探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 光學(xué)式掃描探頭ZEISS LineScan蔡司三坐標(biāo)探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)光學(xué)式掃描探頭ZEISS EagleEye navigator蔡司三坐標(biāo)
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭ZEISS RST-P蔡司三坐標(biāo)探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭ZEISS VAST XT gold蔡司三坐標(biāo)探頭
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 接觸式掃描探頭ZEISS ROTOS蔡司三坐標(biāo)粗糙度測(cè)量
三次元測(cè)量?jī)x 光學(xué)式掃描探頭ZEISS FalconEye蔡司三次元探頭
三次元測(cè)量?jī)x 接觸式掃描探頭ZEISS XDT蔡司三次元探頭
三次元測(cè)量?jī)x 三次元探頭座ZEISS CSC蔡司三次元關(guān)節(jié)式探頭座
三次元測(cè)量?jī)x光學(xué)式掃描探頭ZEISS EagleEye navigator蔡司三次元
