GIN精展平面平晶55155/GOF
品牌：GIN(精展)
型號：55155
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平晶是利用光波干涉現象測量平行度及平面度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法，也稱技術光波干涉法。借助于平行平晶產生的干涉條紋圖案可對測量表面的平行度進行檢測。
| 訂購編號 Order No. | 規格明細 | 直徑 | 厚度 | 平行度 | 平面度 |
| 55150-01 | 高精度平行平晶 | φ30 | 12 | 0.2μm | 0.1μm |
| 55150-02 | 一般精度平行平晶 | φ30 | 12 | 0.4μm | 0.2μm |
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